ESD試驗方法和標準

【本資料來自第八屆電路保護與電磁兼容技術研討會】
演講嘉賓:中國賽寶實驗室高級工程師 來萍
內容介紹:無論是集成電路、PCBA還是電子設備裝置,在進行ESD防護設計的前后都需要對產品進行ESD試驗,以確認產品的抗ESD能力以及防護設計是否達到預期的水平。本文檔從靜電試驗的目的和意義、元器件ESD試驗方法和標準、電子設備ESD試驗方法和標準、試驗方法對比等幾個方面出發,介紹如何對產品進行ESD試驗評估以及相關的國內外主流標準和及其試驗內容,并對比闡述電子元器件和電子設備的ESD試驗方法各自的特點。
采購指南
更多>>特別推薦
- 成本與性能的平衡:振蕩線圈技術深度解析與選型建議
- 十一月上海見!106屆中國電子展預登記開啟,共探產業新機遇
- 清潔電器智能化升級:MCU芯片性能成差異化競爭核心
- Cadence與NVIDIA強強聯合,數字孿生平臺新模型助推AI數據中心高效部署
- 偏轉線圈技術解析:從基礎原理到選型要則的全景指南
技術文章更多>>
- Spectrum推出多通道GHz數字化儀,最高支持12通道
- 安森美破解具身智能落地難題,全鏈路方案助推機器人產業化
- AMD 推出 EPYC? 嵌入式 4005 處理器,助力低時延邊緣應用
- 機電執行器需要智能集成驅動器解決方案以增強邊緣智能
- 廣東國際水處理技術與設備展覽會邀請函
技術白皮書下載更多>>
- 車規與基于V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索
LTC
LTE
LTE功放
LTE基帶
Marvell
Maxim
MCU
MediaTek
MEMS
MEMS傳感器
MEMS麥克風
MEMS振蕩器
MHL
Micrel
Microchip
Micron
Mic連接器
Mi-Fi
MIPS
MLCC
MMC連接器
MOSFET
Mouser
Murata
NAND
NFC
NFC芯片
NOR
ntc熱敏電阻
OGS