基于示波器的EMI調試
在現(xiàn)代電子產品開發(fā)中，為了確保產品順利通過EMC認證、提升一次性通過率，工程師希望在設計、調試階段對被測電路進行EMI特性測試，以便及時調整電路的參數(shù)和設計，滿足相關EMI標準要求?，F(xiàn)代示波器作為工程師手頭最常用的調試工具，在帶寬、采樣率等時域測試指標不斷提高的基礎上更添加硬件下變頻電路和獨特的FFT算法，從而能夠讓示波器具備強大的頻域分析功能。這使得工程師可以在做EMI調試時將干擾信號的頻譜與時域關聯(lián)起來，用多種方式隔離出故障，有效將突發(fā)的EMI問題清晰捕獲。通過選通頻譜功能，在時域波形中移動選通窗口，可以有效地定位突發(fā)EMI的發(fā)生規(guī)律，幫助工程師找到EMI問題的真正原因.
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