-
提高LED顯示屏遠距離通訊穩定性的有效方法
眾所周知，數據傳輸是工業控制領域一個非常重要的環節，數據傳輸的穩定程度直接影響到產品的可靠性。因此如何提高數據傳輸的可靠性和穩定性便成為工程師不得不面對的課題。下面以本公司的LED生產看板顯示屏項目實施過程中出現的問題為例闡述一下在使用RS-485作為遠距離數據通訊手段時要注意的事項。
2012-10-31
LED
-
脈搏測量儀
【導讀】本文主要討論脈搏測量儀電路工作原理 、脈搏測量儀軟件設計、脈搏測量儀安裝與調試 及其解決方案。
2012-10-31
單片機 脈搏 測量
-
NI推薦選擇硬件在環（HIL）測試系統I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環測試系統所必須的。硬件在環（HIL）測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環測試系統體系結構和用于實現的實時處理技術。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實時處理器創建您的硬件在環測試系統。
2012-10-31
NI 硬件 測試
-
電子負載應用于檢測設備測試中
隨著電子市場的發展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設備也得以廣泛應用。就在LED驅動、電源模塊測試、充電器生產及UPS生產等領域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經成為了這些領域必不可少的測試設備。
2012-10-31
電子負載 檢測設備 測試
-
如何測試小型存儲器陣列
隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
-
相互調變失真的測量方法
在發射(Tx)路徑上的相互調變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調變失真特性被稱為“被動的相互調變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調變失真 測量方法
-
是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
-
VIO的開環測試電路
輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環測試電路
-
TI推出新型SoC：簡化設計、降低成本
TI推出新型智能電表SoC，可使開發人員針對智能電子電表應用簡化設計、提高彈性與降低系統成本。它結合3個獨立引擎的完全集成式解決方案，計量引擎可達到0.5%的電表等級準確度，并支持單相或三相電表。
2012-10-31
TI SoC 智能電表
- 噪聲中提取真值！瑞盟科技推出MSA2240電流檢測芯片賦能多元高端測量場景
- 10MHz高頻運行！氮矽科技發布集成驅動GaN芯片，助力電源能效再攀新高
- 失真度僅0.002%！力芯微推出超低內阻、超低失真4PST模擬開關
- 一“芯”雙電！圣邦微電子發布雙輸出電源芯片，簡化AFE與音頻設計
- 一機適配萬端：金升陽推出1200W可編程電源，賦能高端裝備制造
- 激遇濟南 光鏈未來 2026濟南激光產業大會在濟南成功舉辦
- 聯通支付公司成功加入中國綠金委，成為理事單位
- 不停產、保觸控、低成本：遠創智控直通型模塊助力化工老舊設備平滑升級
- 降本增效新標桿：Neway如何以GaN技術助力數據中心PUE降至1.08？
- 控成本、降風險：Arm Flexible Access訂閱方案升級，助力企業降低芯片研發投入
- 車規與基于V2X的車輛協同主動避撞技術展望
- 數字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰
- 汽車模塊拋負載的解決方案
- 車用連接器的安全創新應用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
