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碳化硅賦能浪潮教程:利用SiC CJFET替代超結MOSFET

發布時間:2026-06-16 來源:轉載 責任編輯:lily

【導讀】碳化硅(SiC)憑借其優異的材料特性,在服務器、工業電源等關鍵領域掀起技術變革浪潮。本教程聚焦SiC 尤其是SiC JFET系列器件,從碳化硅如何重構電源設計邏輯出發,剖析其在工業與服務器電源場景的應用價值。我們已經介紹了《碳化硅如何革新電源設計、工業與服務器電源》《三種替代Si和SiC MOSFET的方案》《SiC Cascode JFET與SiC Combo JFET深度解析》。本文將介紹利用SiC CJFET替代超結MOSFET以及開關電源應用。


(一)利用SiC CJFET替代超結MOSFET

(1)安森美與競品對比

本表對比了安森美(onsemi)EliteSiC CJFET器件UJ4C075033K3S與某競品廠商的Si超結(SJ)MOSFET的關鍵特性。其中,UJ4C075033K3S在25℃下的額定值為750V,33mΩ;而競品Si SJ MOSFET在25℃下的額定值為650V,29mΩ。在此對比中,該CJFET的反向恢復電荷QRR降低至1/60,柵極電荷QG降低至1/6,反向傳輸電容COSS(tr)降低至1/10。


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(2)最大限度降低反向傳輸電容

SiC CJFET與Si SJ MOSFET之間最顯著的差異在于電容特性與裸片尺寸。在安森美UJ4C075044B7S CJFET與某競品Si SJ MOSFET的對比中,盡管CJFET的阻斷電壓VBRDSS高出100V,且兩者的導通電阻RDS(on)額定值相近,但SJ MOSFET的反向傳輸電容COSS(tr)卻高出13倍以上。這一差異源于SJ MOSFET在低壓范圍內表現出的非線性特性,如下圖所示。CJFET的電壓轉換時間遠短于SJ MOSFET。在采用半橋整流拓撲(而非全橋)的電源系統中,CJFET能始終實現顯著更快的開關速度。


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(3)降低導通損耗,縮短死區時間

在用SiC CJFET替代Si SJ MOSFET時,安森美建議通過調整死區時間(dead time)或在CJFET上增加緩沖電容,以有效管理因死區引起的導通損耗。尤其在較高開關頻率下,死區時間帶來的影響會變得更加顯著。


對于CJFET而言,從檢測到電流反向到JFET溝道完全導通通常存在延遲。舉例來說:若死區時間為100ns,而開關頻率為100kHz,則開關周期為10μs,此時死區僅占周期的1%,該延遲影響相對較小。然而,若開關頻率提升至1MHz,開關周期將縮短至1μs,死區時間便占整個周期的10%,其影響不可忽視。


在相同死區時間下,相較于Si SJ MOSFET,SiC CJFET的漏源電壓VDS放電速度更快,導致其體二極管在剩余死區時間內持續導通。假設CJFET剩余死區時間TDT(CJFET)為0.2μs,體二極管正向壓降VFD為1.2V,開關頻率FSW為100kHz,開關電流IC為10A,則全橋拓撲中由剩余死區引起的功率損耗PDT可通過以下公式計算:


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在此案例中,計算得出的損耗為0.96W。然而,通過對柵極應用Adaptive Gate Control,在死區時間內提前提升VG2,讓VDS(CJFET)降至0V的瞬間開通。即可使該部分損耗趨近于零。這一效果可通過觀測VDS與VGS的輸出波形加以驗證。


死區時間越長,體二極管導通損耗的持續時間也越長。通過縮短CJFET的死區時間,或為其增加緩沖電容以匹配Si SJ MOSFET的COSS,可有效改善此問題。


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(4)消除反向恢復失效風險

在對比SiC CJFET與Si SJ MOSFET時,當兩者具有相同的電流變化率(Δi/Δt)并在相同的結溫(TJ=25℃)下工作,安森美UJ4C075033K3S CJFET的反向恢復電荷(QRR)最多可比后者低60倍。更小的反向恢復電荷意味著更高效率、更低噪聲與更優的電磁兼容性。此外,CJFET在反向恢復過程中沒有導致器件失效的風險,可顯著提升系統整體穩健性。


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(二)開關電源應用

(1)適用于任何電壓等級的高能效表現

為展示CJFET在電源快速開關需求下的性能,我們測試了四款不同的安森美CJFET器件在3.6kW圖騰柱功率因數校正(TPPFC)硬開關拓撲中的效率。所有被測CJFET在半負載條件下均實現了超過99%的峰值效率。


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(2)同步整流(SR)技術

同步整流的實現,首先在于用可控的場效應晶體管(FET)替代諧振型電源轉換器中通常在初級側(有時也在次級側)使用的二極管。由于這些FET的開關時序可以更直接地控制,轉換器輸出的直流波形能夠更準確地匹配負載所需的電壓和頻率。


全橋移相有源橋零電壓轉換拓撲

以這種在AC-DC應用中日益普及的電路拓撲為例:所有通常使用二極管的開關位置均被場效應晶體管替代。“ZVT”代表零電壓轉換,該技術巧妙利用了主變壓器的漏電感與開關的輸出電容——這些通常被視為寄生元件的特性——并將其轉化為優勢。


例如,在標準全橋拓撲中置于初級側外部的漏電感,現在可集成至內部。它在實現相同功能的同時,大幅縮減了占用空間。

通過有源橋移相控制,脈寬調制(PWM)可轉換為固定開關頻率的工作模式,這使控制實現更為簡便,同時降低了開關對擊穿電壓的耐壓要求。電磁干擾頻譜也更為集中,使系統在整個寬輸出電壓范圍內均能實現穩定且高效率的運行。


(3)零電壓開關(ZVS)

從電氣工程師的角度來看,全橋功率轉換過程的一大優勢在于它能夠實現軟開關。嚴格來說,ZVS并非一種刻意設計的技術手段,而更像是一種可被巧妙利用的物理現象。它通過功率轉換器的諧振網絡(或稱“諧振腔”)得以實現。

典型的零電壓開關會利用電容和電感構成一個諧振電路(即“諧振腔”)。而在實際應用中,常以變壓器固有的勵磁電流作為便捷的替代。可以把這個勵磁電流看作一種振蕩信號,它能夠在PFC電路中MOSFET(或CJFET)兩端電壓為零(或極低)時,將器件導通。


波形整形的核心思想是:在輸入電壓處于波峰或波谷時導通或關斷輸出開關,而諧振所產生的自然振蕩,恰好為這種基于電感特性的開關動作提供了理想時序。


該電流被有意設置為相位滯后于諧振網絡的電壓,正是這種滯后引發了諧振,從而觸發場效應晶體管導通(并促使其他開關按序關斷)。在此過程中,開關損耗得以有效避免,EMI噪聲也顯著降低。


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(4)高頻電源的五個轉換級


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這是前文介紹的圖騰柱PFC完整電路圖。這種全“無橋式”拓撲結構包含五個功率轉換級。最左側為硬開關,其余四個均采用軟開關技術。從左至右,每個同步整流轉換級的電路結構逐級簡化。


對于“快速橋臂”(即硬開關),圖騰柱PFC需搭配RC緩沖器使用CJFET。若PCB布局空間受限無法容納此元件,則SiC MOSFET可能成為唯一選擇。否則,若考慮CJFET配合RC緩沖電路所能實現的性能特性,CJFET將是更優方案。


對于“慢速橋臂”(即同步整流器件),其核心要求是具備低導通電阻RDS(on),因此CJFET是最佳選擇。


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對于位于中間的初級LLC轉換級(因其緊鄰兩個電感L和一個電容C而得名),導通損耗是主要損耗因素。在高開關頻率下,關斷開關損耗是另一個關鍵參數,因為LLC作為一種零電壓開關(ZVS)拓撲,不存在導通損耗。CJFET在配置緩沖器后已展現出極低的關斷能量損耗Eoff,因此是初級LLC轉換級的最佳選擇。

隨后的次級LLC轉換級以及最右側的O-Ring級可用于400V輸出電壓的設計中。對于此類高壓應用,低導通電阻RDS(on)和低輸出電容COSS至關重要,這使得CJFET在整個次級側相比SiC MOSFET或Si SJ MOSFET更具優勢。


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