【導(dǎo)讀】準確的弱電信號測量是各種科學(xué)分析設(shè)備、環(huán)境監(jiān)測和過程控制的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一，尤其是當(dāng)弱電信號達到pA甚至fA水平時。 如何測量微弱信號？這向來是各大儀器廠商津津樂道的話題。如何設(shè)計檢測微弱電流的產(chǎn)品？這對設(shè)計者來說也是巨大的挑戰(zhàn)。
一直以來，基于ADI的JFET放大器AD549芯片方案在微弱電流采樣的前端扮演著主力中堅的角色，在儀器儀表行業(yè)持續(xù)橫行了30多年，經(jīng)久不衰。但由于JFET工藝的芯片短板很明顯，它缺少Bipolar型放大器所擁有的低失調(diào)、低電壓噪聲以及低溫漂高共模等特性，對于不同溫度下的特性補償很難拿捏得準確。隨著科技的進步，ADI基于新型CMOS工藝，通過DigiTrim®技術(shù)革新，在2015年發(fā)布了ADA4530-1，在具備了極低的偏置電流和超高輸入阻抗的同時，還擁有更低的失調(diào)電壓，更優(yōu)良的溫漂特性，以及更高的環(huán)路帶寬和ESD保護功能等等。以下圖1是ADA4530和AD549的對比圖，不難發(fā)現(xiàn)即使是高溫的情況下，ADA4530依舊有著良好的偏置電流特性。
圖1 ADA4530-1與AD549性能對比表
但不同的是，CMOS工藝往往推出的是SMT封裝，實際在應(yīng)用上增加了設(shè)計者的難度。由于AD549是DIP封裝，用戶只需要把輸入引腳騰空就可以得到良好的絕緣效果，但ADA4530卻不能，所以對如何挑選PCB的板材和PCB布線都有很高的設(shè)計要求。
（注：極低的輸入偏置電流和極高的輸入電阻要求，使得用于構(gòu)建電路的材料的絕緣電阻常常成為最大的誤差源。任何具有有限電阻且與高阻抗導(dǎo)體接觸的絕緣體都會產(chǎn)生誤差電流，比如PCB層壓材料、電纜和連接器絕緣層）
針對以上應(yīng)用難題，與ADI合作三十多年的技術(shù)型分銷商Excelpoint世健上海技術(shù)團隊，從ADA4530芯片預(yù)發(fā)布起就開始對其進行針對性的研究和技術(shù)積累。基于如何通過良好的設(shè)計全面發(fā)揮ADA4530-1的性能，Excelpoint世健在皮安級電流計量評估套件上不斷更新設(shè)計和研發(fā)，自2020年9月推出超高精度皮安計模塊EPSH-PAM2.0后得到了用戶的一致好評。 近期更發(fā)布了超高精度皮安計模塊的增強版本 EPSH-PAM2.0EP，為終端用戶提供兩種細分的選擇，加速客戶系統(tǒng)設(shè)計。（后文均以PAM2.0EP來描述）。
作為皮安計模組的進階版產(chǎn)品，PAM2.0EP擁有更強的性能特點：
電路設(shè)計上， ADA4530-1通過10GR跨阻后進行IV轉(zhuǎn)換，第二級則采用低噪的軌對軌零漂放大器ADA4522-1對 ADA4530輸出的電壓信號進行調(diào)理。值得一提的是，這里為方便客戶單獨使用模塊的前端，世健在ADA4522-1上加入了增益可控電路（通過低Ron的多路開關(guān)ADG1608和固定阻值搭配達到增益可控）并留有測試點TP。
后端的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的選擇上同樣采用的是ADI經(jīng)典24bit Δ-∑ ADC-AD7124，AD7124更像是一款小型采集系統(tǒng)，高精度的ADC內(nèi)核以及內(nèi)置的PAG能在靈活調(diào)整信號增益和采集的同時，還保證了低的增益誤差和較高的ENOB值。另外，AD7124的三態(tài)工作模式，非常適合需要不同功耗領(lǐng)域的產(chǎn)品應(yīng)用，它的數(shù)據(jù)采集速率最大可達到19.2KSPS。
在供電端，世健采用了兩顆低噪聲高電源抑制比的LDO，LTC3260和LT1762，前者是一顆功能性超強的Charge pump加內(nèi)置正負輸出型LDO的產(chǎn)品，可以很好的保證了運放的供電需求，后者則提供穩(wěn)定的3.3V供給數(shù)字部分。
圖2 PAM2.0EP系統(tǒng)框圖
MCU部分采用的是Microchip ARM Cortex-M0，通過單片機內(nèi)置USB端口與PC端對話。可視化的GUI界面可圈可點，用戶可以通過安裝Labview GUI軟件，在PC端通過軟件界面來實時的配置模塊上的各個功能，讓其給出信號波形、直方圖以及統(tǒng)計分析等，同時軟件還支持Excel數(shù)據(jù)導(dǎo)出，非常適合需要做長時間測試記錄的用戶。
圖3 外觀與軟件界面
PAM2.0EP模塊有者非常出色的線性度數(shù)據(jù)，不僅在常溫下測試數(shù)據(jù)優(yōu)異，在全溫度范圍下的線性度表現(xiàn)也非常出色。
模塊的品質(zhì)檢測，均采用的是Keithley 6220源表測量，每款產(chǎn)品都會在不同的溫度點進行多次測試，通過99個點的數(shù)據(jù)合格的情況下判定為可供出貨產(chǎn)品，出廠產(chǎn)品均會配發(fā)這99點測試報告。被測點包括：
1. 常溫25?C，0~100pA范圍中步進為10pA的11個數(shù)據(jù)測試點和1個底噪數(shù)據(jù)點
2. 常溫25?C， 0~20pA范圍中步進為1pA的21個數(shù)據(jù)測試點
3. 溫度40?C、55?C、 70?C、 85?C、 100?C和 115?C時，每個溫度點0~100pA的范圍中步進為10pA的11個數(shù)據(jù)測試點，共66個數(shù)據(jù)
在常溫25°C 時
0-100pA的I-V曲線（見圖4），線性度好于百萬分之一（0.999999x）。
0-20pA的I-V曲線（見圖5），線性度好于萬分之一（0.9999x）。
圖4 0-100pA的I-V曲線測試圖表（溫度25°C）
圖5 0-20pA的I-V線性曲線測試 （溫度25°C）
從圖6測試結(jié)果看，在每個電流輸入點，溫度對電流引起的電流峰峰偏差ΔIp-p約為1pA。用戶可以根據(jù)溫度曲線，結(jié)合現(xiàn)場應(yīng)用進行進一步線性化處理，提供精度。
從40?C至115?C，以15?C為間隔的選擇了7點溫度點25?C, 40?C, 55?C, 70?C, 85?C, 100?C, 115?C，每個溫度點下以10pA 每步從0到100pA測試11點數(shù)。
圖6 40?C至115?C 溫度下0-100pA的I-V曲線測試圖表
世健技術(shù)支持部的高級副總裁戈一新向我們介紹道：“升級版的PAM2.0EP是針寬溫度范圍下的微弱電流檢測應(yīng)用來開發(fā)的，對比之前的版本，它提升了全溫度范圍下的性能和整體可靠性，我們通過大量的實驗和測試保證了這一點。產(chǎn)品即使在高溫下同樣保持相當(dāng)不錯的噪聲水平和線性度。我們會提供每款產(chǎn)品多點測試數(shù)據(jù)，希望幫助用戶節(jié)省產(chǎn)品開發(fā)周期。”
據(jù)悉，目前相關(guān)模塊都已在世健網(wǎng)店出售。 (https://www.excelchips.cn/solutions/epsh-pam2-ep.html)
關(guān)于世健——亞太區(qū)領(lǐng)先的元器件授權(quán)代理商
世健是完整解決方案的供應(yīng)商，為亞洲電子廠商包括原設(shè)備生產(chǎn)商(OEM)、原設(shè)計生產(chǎn)商(ODM)和電子制造服務(wù)提供商(EMS)提供優(yōu)質(zhì)的元器件、工程設(shè)計及供應(yīng)鏈管理服務(wù)。
世健與供應(yīng)商及電子廠商緊密協(xié)作，為新的科技與趨勢作出定位，并幫助客戶把這些最先進的科技揉合于他們的產(chǎn)品當(dāng)中。集團分別在新加坡、中國及越南設(shè)有研發(fā)中心，專業(yè)的研發(fā)團隊不斷創(chuàng)造新的解決方案，幫助客戶提高成本效益并縮短產(chǎn)品上市時間。世健研發(fā)的完整解決方案及參考設(shè)計可應(yīng)用于工業(yè)、無線通信及消費電子等領(lǐng)域。
世健是新加坡的主板上市公司，總部設(shè)于新加坡，擁有約650名員工，業(yè)務(wù)范圍已擴展至亞太區(qū)40多個城市和地區(qū)，遍及新加坡、馬來西亞、泰國、越南、中國、印度、印度尼西亞、菲律賓及澳大利亞等十多個國家。世健集團在2020年的年營業(yè)額超過11億美元。1993年，世健在香港設(shè)立區(qū)域總部——世健系統(tǒng)（香港）有限公司，正式開始發(fā)展中國業(yè)務(wù)。目前，世健在中國擁有十多家分公司和辦事處，遍及中國主要大中型城市。憑借專業(yè)的研發(fā)團隊、頂尖的現(xiàn)場應(yīng)用支持以及豐富的市場經(jīng)驗，世健在中國業(yè)內(nèi)享有領(lǐng)先地位。
免責(zé)聲明：本文為轉(zhuǎn)載文章，轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息，版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題，請聯(lián)系小編進行處理。
推薦閱讀：
