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三大“關(guān)鍵詞”來了解AI
在剛剛過去的一年里，人工智能可謂最火的科技熱詞。基礎(chǔ)研究領(lǐng)域的硬件、算法提升，與結(jié)合產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術(shù)應(yīng)用，讓人們越來越相信，未來十年，人工智能將深刻改變?nèi)藗兊纳顚W(xué)習(xí)，企業(yè)的經(jīng)營理念，政府的決策方式。
2018-01-22
算法 人工智能
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相得益彰，說的就是『ADC+驅(qū)動(dòng)器』這個(gè)組合
用“相得益彰”來形容ADC LTC2185 + 差分放大器 ADA4927再合適不過了，因?yàn)椤狶TC2185 出色的線性度，需要高性能的放大器相助才能得以保證；ADA4927 就是專為驅(qū)動(dòng) DC 至 125 MHz 的高性能 ADC 而生。今天，我們就來說說他們之間的“芯”故事~
2018-01-19
AD 驅(qū)動(dòng)器 LTC2185 差分放大器 ADA4927
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深入分析“時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)”
時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)可使用多個(gè)相同的 ADC（文中雖然僅討論了 ADC，但所有原理同樣適用于 DAC 的時(shí)間交錯(cuò)特性），并以比每一個(gè)單獨(dú)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來，時(shí)間交錯(cuò)（IL）由時(shí)間多路復(fù)用 M 個(gè)相同的 ADC 并聯(lián)陣列組成。
2018-01-18
時(shí)間交錯(cuò)技術(shù) ADC 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)據(jù)采樣
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選對了連接器，卻沒考慮觸點(diǎn)的后果很嚴(yán)重
任何有一點(diǎn)實(shí)際經(jīng)驗(yàn)的工程師都知道，互連電纜和連接器是可靠性設(shè)計(jì)中必不可少的重要元素。它們是連接模擬和數(shù)字系統(tǒng)的全被動(dòng)模擬組件。互連安裝不正確，沒綁緊，應(yīng)力釋放不完全，彎曲太頻繁，或工作在太緊的彎曲半徑上，這些都可能導(dǎo)致徹底的系統(tǒng)故障。
2018-01-17
產(chǎn)業(yè)前沿 EDA/IP/IC設(shè)計(jì) 連接器
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三大維度+關(guān)鍵指標(biāo)，選出最適合你的MEMS加速度計(jì)
加速度計(jì)能夠測量加速度、傾斜、振動(dòng)或沖擊，因此適用于從可穿戴健身裝置到工業(yè)平臺穩(wěn)定系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用。市場上有成百上千的加速度計(jì)器件可供選擇，其成本和性能各不相同。本文討論加速度計(jì)的關(guān)鍵參數(shù)和特性，以及它們與傾斜和穩(wěn)定應(yīng)用的關(guān)系，從而幫助你選擇最合適的加速度計(jì)。
2018-01-16
MEMS加速度計(jì) 測試測量 關(guān)鍵參數(shù) 特性 應(yīng)用領(lǐng)域
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簡單了解電阻器常見的幾種失效模式
電阻器失效機(jī)理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過程是引起電阻器老化的原因。失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機(jī)理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2018-01-16
電阻器 失效模式
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五個(gè)問題，鬧明白低壓差分信號隔離那些事
低壓差分信號傳輸(LVDS)是一種在更高性能轉(zhuǎn)換器和高帶寬FPGA或ASICI/O中常用的高速接口。差分信號傳輸對于外部電磁干擾(EMI)具有很強(qiáng)的抑制能力（因?yàn)榉聪嗯c同相信號之間的互相耦合所致），同時(shí)也相應(yīng)地可以將任何因?yàn)長VDS信號傳輸所造成的EMI最小化。在LVDS接口上增加隔離是一種透明解決方案，可以...
2018-01-15
差分信號 電流隔離 電磁干擾
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深度解析開關(guān)電源雙極性晶體管的開關(guān)特性
所謂雙極性，是指有兩個(gè)PN結(jié)的普通開關(guān)三極管，在“彩顯”中一般作為開關(guān)電源、行輸出級和S校正電路的切換開關(guān)。三極管的開關(guān)狀態(tài)和模擬放大狀態(tài)的要求明顯不同，對開關(guān)特性的描述也不是通常的fT、fa所能概括的。
2018-01-15
開關(guān)電源 雙極性 晶體管
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一款基于法拉電容的UPS電路設(shè)計(jì)思路
您是否有遇到使用中的程序無故丟失？產(chǎn)品調(diào)試非常穩(wěn)定，布置到現(xiàn)場后頻繁系統(tǒng)崩潰和數(shù)據(jù)遺失，亦或產(chǎn)品應(yīng)用一年后批量涌現(xiàn)存儲(chǔ)器件損壞？本文將深入探明這些問題的原因及提供參考解決方案。
2018-01-15
控制器 存儲(chǔ)器 ARM
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